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APMON II 表面沉降大顆粒檢測儀

APMON II 表面沉降大顆粒檢測儀

一、產(chǎn)品詳情APMON II 表面沉降大顆粒檢測儀,符合 ISO 14644-17國際標準,核心用于實時監(jiān)控潔凈室內(nèi)15μm 及以上大型粒子的自然落下動態(tài)與堆積情況。設(shè)備基于激光全像技術(shù),自動統(tǒng)計粒子數(shù)量、解析粒徑大小,以數(shù)據(jù)化方式管理生產(chǎn)環(huán)境?!ぁぁ?..
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詳情介紹

一、產(chǎn)品詳情

APMON II 表面沉降大顆粒檢測儀,符合 ISO 14644-17國際標準,核心用于實時監(jiān)控潔凈室內(nèi)15μm 及以上大型粒子的自然落下動態(tài)與堆積情況。

設(shè)備基于激光全像技術(shù),自動統(tǒng)計粒子數(shù)量、解析粒徑大小,以數(shù)據(jù)化方式管理生產(chǎn)環(huán)境粒子堆積風(fēng)險,精準定位污染發(fā)生時間、溯源人員 / 操作誘因,助力優(yōu)化潔凈生產(chǎn)流程。


二、特點優(yōu)勢

1、精準監(jiān)測大顆粒,彌補傳統(tǒng)設(shè)備短板傳統(tǒng)浮游粒子計數(shù)器僅監(jiān)測 0.1~5μm 浮游小顆粒,無法捕捉 10μm 以上大型粒子;APMON 可精準檢測15~1000μm全粒徑大顆粒,覆蓋傳統(tǒng)設(shè)備 50%>10μm、90%>40μm 的監(jiān)測盲區(qū)。

2、實時動態(tài)監(jiān)控,數(shù)據(jù)可視化溯源最短 5 分鐘采集一次數(shù)據(jù),實時記錄粒子落下高峰時段;通過圖表直觀呈現(xiàn)粒子數(shù)量、粒徑分布,精準鎖定污染發(fā)生時間,可比對人 / 事 / 物行為,快速溯源污染誘因。

3、符合國際標準,支持 PDR 量化管控嚴格遵循 ISO 14644-17 標準,可計算粒子堆積率(PDR),量化每平方米 / 每小時粒子沉積量,提供 PDR 上限參考值,實現(xiàn)大型粒子風(fēng)險的標準化、數(shù)據(jù)化管控。

4、自動生成可視化報表,直觀呈現(xiàn)時間 - 顆粒數(shù)量、粒徑分布,輕松關(guān)聯(lián)人員動線、操作流程、設(shè)備狀態(tài),快速鎖定污染源。

5、云端集中管控,多站點協(xié)同理。傳感器可獨立運行,數(shù)據(jù)自動上傳 AWS 云平臺,支持全球多潔凈室、多設(shè)備數(shù)據(jù)同步查看與對比,輕松實現(xiàn)跨廠區(qū)基準化管理。


三、規(guī)格參數(shù)

項目

規(guī)格參數(shù)

工作環(huán)境條件

溫度:10~35℃;相對濕度:10%~90%,無凝露

外殼材質(zhì)

鋁合金+塑料,易清潔,可用無塵布搭配80%乙醇或異丙醇擦拭

可檢測粒徑范圍

15~ 1000μm

有效測量面積

50cm2

粒子沉積率可靠性

99%置信區(qū)間,長期誤差≤±6%

重合誤差

1%

最短采樣時間

4分鐘

設(shè)備尺寸

360× 89 × 50 mm14.4 × 3.5 × 2.1 英寸)

材料

樹脂 玻璃

設(shè)備重量

5千克(含電池)

電源適配器

輸入:100~240V 交流,50/60Hz;輸出:+5.1V 直流,15.3W,USB-C接口

通信方式

以太網(wǎng)、Wi-Fi

光學(xué)光源

20毫安激光二極管,波長406納米

檢測方法

基于3項標準設(shè)置的檢測模式

激光安全等級

全息式

校準要求

依據(jù)IEC60825-1標準,2米安全距離

裝箱清單

硬質(zhì)箱內(nèi)含:1臺傳感器、電源適配器、移動電源、1個耗材、1根網(wǎng)線、含用戶手冊的U盤、快速入門指南、AWS云密鑰


四、應(yīng)用范圍 / 場景

  • 半導(dǎo)體、液晶面板、制藥、醫(yī)療器械、精密制造

  • 任何對5μm以上顆粒敏感的生產(chǎn)環(huán)境

  • “明明潔凈室等級很高,產(chǎn)品卻總是臟”的企業(yè)

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